Промышленный атомно-силовой микроскоп AFM-IN

AFM-IN Industrial Grade Atomic Force Microscope

USB2.0/3.0, Industrial detection, Pneumatic Shock Absorber

Основные особенности:

• Сканирование без перемещения образца;
• 3-осевой независимый пьезоэлектрический поступательный сканер с замкнутым контуром;
• Двухмерный электрический столик для перемещения образца;
• Система оптического позиционирования с большим увеличением;
• Удобный режим настройки лазерного пятна;
• Интеллектуальный режим впрыска;
• Пневматический амортизатор.

Более подробное описание - на сайте Производителя.